ENБързи връзки
Тестването на интегрални схеми се отнася до процеса на тестване на производителността, функционалността и надеждността на интегрални схеми. Целта на IC тестването е да се гарантира, че интегралните схеми могат да отговарят на изискванията за проектиране и целите за производителност в практически приложения, както и да се подобри надеждността и стабилността на интегрални схеми.
IC тестването включва редица аспекти, като функционално тестване, тестване на производителността, тестване на надеждността, параметрично тестване и т.н. Функционалният тест основно открива дали логическата функция на IC е правилна; тестът за производителност открива главно времевите характеристики на интегралната схема, производителността на консумацията на енергия и др .; тестът за надеждност открива главно способността на IC против смущения, живота и др.; тестът на параметрите открива главно производителността на параметрите на интегралната схема, като напрежение, ток, честота и др.
Основният принцип на IC тестването
1. Тестово генериране и предаване на сигнал
Основният принцип на IC теста е да генерира и предава тестови сигнали за тестване на производителността, функционалността и надеждността на интегрални схеми. Тестовите сигнали могат да бъдат аналогови, цифрови или смесени сигнали, които се избират според изискванията на изпитването и целите на изпитването.
Генерирането на тестови сигнали може да се постигне чрез тестови инструменти, тестово оборудване или тестов софтуер. Предаването на тестови сигнали може да се осъществява чрез изпитвателни сонди, изпитвателни приспособления или тестови интерфейси. Генерирането и предаването на тестови сигнали трябва да отговаря на определени изисквания за точност, стабилност и надеждност, за да се гарантира точността на резултатите от изпитването.
2. Придобиване и анализ на тестовия отговор
Друг основен принцип на тестването на интегрални схеми е да се оцени производителността, функционалността и надеждността на интегрални схеми чрез придобиване и анализ на тестовите отговори. Тестовият отговор може да бъде параметри като напрежение, ток, честота и т.н., или показатели за ефективност като логически състояния и времеви характеристики.
Придобиването на отговор от изпитването може да се осъществи чрез инструменти за изпитване, оборудване за изпитване или софтуер за изпитване. Анализът на реакцията на теста може да бъде постигнат чрез анализ на данни, оценка на производителността или диагностика на неизправности. Събирането и анализът на реакцията на теста трябва да отговаря на определени изисквания за точност, стабилност и надеждност, за да се гарантира точността на резултатите от теста.
3. Преценка и обратна връзка за резултатите от теста
Основният принцип на IC тестването включва и преценката и обратната връзка на резултатите от теста. Преценката на резултатите от теста е да се прецени дали производителността, функционалността и надеждността на интегралната схема отговарят на изискванията за проектиране и целите за ефективност, като се сравнява разликата между отговора на теста и очаквания отговор.
Обратната връзка от резултатите от изпитването е за оптимизиране и подобряване на процеса на проектиране, производство или изпитване на интегрални схеми чрез съобщаване на резултатите от изпитването на проектантите, производителите или изпитателите. Преценката и обратната връзка от резултатите от теста трябва да отговарят на определени изисквания в реално време, точност и надеждност, за да се гарантира ефективността на процеса на изпитване.
Функционалният тест е основен метод на IC теста, използван главно за откриване дали логическата функция на IC е правилна. Функционалното тестване обикновено използва векторно тестване, за да се наблюдава дали изходният отговор на IC отговаря на очакванията чрез въвеждане на специфични тестови вектори.
Предимството на функционалното тестване е, че осигурява високо покритие на тестовете и може да открие повечето от логическите грешки в интегралната схема. Недостатъкът на функционалното тестване обаче е, че отнема много време и изисква голямо количество тестови вектори и тестови данни.
Тестването на производителността е важен метод за тестване на интегрални схеми, използван главно за откриване на производителността на времето и консумацията на енергия на интегрални схеми. Тестването на производителността обикновено използва тестване на времето и тестване на мощността, за да оцени индексите на производителност на интегрални схеми чрез измерване на техните времеви параметри и параметри на консумация на енергия.
Предимството на тестването на производителността е, че може да открие затруднения в производителността и проблеми с консумацията на енергия на интегрални схеми. Недостатъкът на тестването на производителността обаче е, че изисква високопрецизно тестово оборудване и сложни тестови процедури.
Тестът за надеждност е ключов метод на IC теста, използван главно за откриване на способността за защита от смущения и живота на IC. Тестването за надеждност обикновено използва стрес тестове, тестове за стареене и тестване на околната среда, за да оцени надеждността на интегрални схеми чрез симулиране на различни тежки среди и условия на работа.
Предимството на тестването за надеждност е, че е в състояние да открие потенциални проблеми и проблеми с дълголетието на интегрални схеми. Недостатъкът на тестването за надеждност обаче е, че отнема много време и изисква много тестово оборудване и условия за изпитване.
Параметричният тест е спомагателен метод за IC тест, използван главно за откриване на напрежението, тока, честотата и други параметри на IC. Параметричният тест обикновено използва параметрични тестови инструменти, чрез измерване на стойностите на параметрите на IC, за да оцени неговите показатели за ефективност.
Предимствата на параметричното тестване са бърза скорост на теста и лесна работа. Недостатъкът на параметричното тестване обаче е, че тестовото покритие е ниско и не може да открие логически грешки и затруднения в производителността в интегрални схеми.