ENШвидкі посилання
Тестування інтегральних схем відноситься до процесу перевірки продуктивності, функціональності та надійності інтегральних схем. Метою тестування мікросхем є забезпечення того, щоб інтегральні схеми могли відповідати вимогам до проектування та цільовим показникам продуктивності в практичному застосуванні, а також підвищити надійність і стабільність інтегральних схем.
Тестування IC включає в себе ряд аспектів, таких як функціональне тестування, тестування продуктивності, тестування надійності, параметричне тестування і так далі. Функціональний тест в основному виявляє, чи правильна логічна функція мікросхеми; тест продуктивності в основному виявляє тимчасові характеристики мікросхеми, показники енергоспоживання тощо; перевірка надійності в основному виявляє здатність мікросхеми до перешкод, термін служби тощо; Тест параметрів в основному виявляє параметри продуктивності мікросхеми, такі як напруга, струм, частота тощо.
Основний принцип тестування ІС
1. Тестова генерація та передача сигналу
Основний принцип випробування ІС полягає в генерації і передачі тестових сигналів для перевірки продуктивності, функціональності і надійності інтегральних мікросхем. Тестові сигнали можуть бути аналоговими, цифровими або змішаними сигналами, які вибираються відповідно до вимог до випробувань і цілей випробувань.
Генерація тестових сигналів може бути досягнута за допомогою контрольно-вимірювальних приладів, випробувального обладнання або тестового програмного забезпечення. Передача тестових сигналів може бути реалізована за допомогою тестових зондів, тестових пристосувань або тестових інтерфейсів. Генерація та передача тестових сигналів повинні відповідати певним вимогам до точності, стабільності та надійності для забезпечення точності результатів випробувань.
2. Отримання та аналіз тестової відповіді
Ще одним основним принципом тестування ІС є оцінка продуктивності, функціональності та надійності ІС за допомогою збору та аналізу тестових відповідей. Відповіддю на тест можуть бути такі параметри, як напруга, струм, частота тощо, або показники продуктивності, такі як логічні стани та часові характеристики.
Отримання тестової відповіді може бути реалізовано за допомогою контрольно-вимірювальних приладів, випробувального обладнання або програмного забезпечення для тестування. Аналіз реакції на тест може бути досягнутий за допомогою аналізу даних, оцінки продуктивності або діагностики несправностей. Збір та аналіз тестових відповідей повинні відповідати певним вимогам до точності, стабільності та надійності для забезпечення точності результатів тестування.
3. Оцінка та зворотний зв'язок з результатами тестування
Основний принцип тестування ІС включає в себе також судження і зворотний зв'язок з результатами тестування. Оцінка результатів випробувань полягає в оцінці того, чи відповідає продуктивність, функціональність і надійність ІС вимогам до проектування та цільовим показникам продуктивності шляхом порівняння різниці між тестовою відповіддю та очікуваною відповіддю.
Зворотний зв'язок з результатами випробувань призначений для оптимізації та вдосконалення процесу проектування, виробництва або тестування мікросхеми шляхом повідомлення результатів випробувань проектувальникам, виробникам або тестувальникам. Оцінка та зворотний зв'язок щодо результатів випробувань повинні відповідати певним вимогам до реального часу, точності та надійності для забезпечення ефективності процесу тестування.
Функціональний тест є основним методом тесту ІС, який в основному використовується для виявлення правильності логічної функції ІС. Функціональне тестування зазвичай використовує векторне тестування, щоб спостерігати, чи відповідає вихідна реакція мікросхеми очікуванням, вводячи конкретні тестові вектори.
Перевага функціонального тестування полягає в тому, що воно забезпечує високе покриття тестом і може виявити більшість логічних помилок в мікросхемі. Однак недоліком функціонального тестування є те, що воно займає багато часу і вимагає великої кількості тестових векторів і тестових даних.
Тестування продуктивності є важливим методом тестування мікросхем, який в основному використовується для виявлення продуктивності синхронізації та енергоспоживання мікросхем. Тестування продуктивності зазвичай використовує тестування часу та тестування потужності для оцінки показників продуктивності мікросхем шляхом вимірювання їх часових параметрів та параметрів енергоспоживання.
Перевага тестування продуктивності полягає в тому, що воно може виявити вузькі місця в продуктивності та проблеми з енергоспоживанням мікросхем. Однак недоліком тестування продуктивності є те, що воно вимагає високоточного випробувального обладнання та складних процедур випробувань.
Перевірка надійності є ключовим методом тестування IC, який в основному використовується для виявлення здатності проти перешкод і терміну служби мікросхем. Тестування надійності зазвичай використовує стрес-тестування, випробування на старіння та тестування навколишнього середовища для оцінки надійності мікросхем шляхом моделювання різних суворих умов та умов роботи.
Перевага тестування надійності полягає в тому, що воно здатне виявляти потенційні проблеми та проблеми довговічності мікросхем. Однак недоліком перевірки надійності є те, що вона займає багато часу і вимагає великої кількості тестового обладнання та умов випробувань.
Параметричний тест є допоміжним методом IC тесту, який в основному використовується для виявлення напруги, струму, частоти та інших параметрів мікросхеми. Параметричний тест зазвичай використовує параметричні контрольні прилади, шляхом вимірювання значень параметрів мікросхеми, для оцінки її показників продуктивності.
Перевагами параметричного тестування є висока швидкість тестування та проста експлуатація. Однак недоліком параметричного тестування є те, що покриття тестами низьке і не може виявити логічні помилки та вузькі місця в продуктивності в мікросхемах.