EN
Швидкі посилання
Випробування інтегрованих схем відноситься до процесу тестування продуктивності, функціональності та надійності інтегральні схеми метою випробувань інтегрованих схем є забезпечення того, що інтегровані схеми можуть відповідати вимогам конструкції та цілям продуктивності в практичних застосуваннях, а також поліпшити надійність та стабільність інтегрованих схем.
Тестування IC включає ряд аспектів, таких як функціональне тестування, тестування продуктивності, тестування надійності, параметричне тестування тощо. Функціональний тест в основному визначає, чи правильна логічна функція IC; перевірка продуктивності в основному визначає продуктивність синхронізації IC, продуктивність енергоспоживання тощо; перевірка надійності в основному визначає здатність мікросхеми проти перешкод, термін служби тощо; Перевірка параметрів в основному визначає продуктивність параметрів IC, таких як напруга, струм, частота тощо.
Основний принцип тестування ІС
1. Формування та передача тестового сигналу
Основний принцип тестування ІС полягає у створенні та передачі тестових сигналів для перевірки продуктивності, функціональності та надійності інтегральних схем. Тестові сигнали можуть бути аналоговими, цифровими або змішаними сигналами, які вибираються відповідно до вимог і цілей тестування.
Генерація тестових сигналів може бути досягнута тестовими приладами, тестовим обладнанням або тестовим програмним забезпеченням. Передачу тестових сигналів можна реалізувати за допомогою тестових зондів, тестових приладів або тестових інтерфейсів. Генерація та передача тестових сигналів повинні відповідати певним вимогам до точності, стабільності та надійності, щоб забезпечити точність результатів тестування.
2. Отримання та аналіз відповіді тесту
Іншим основним принципом тестування ІС є оцінка продуктивності, функціональності та надійності ІС шляхом отримання та аналізу відповідей тесту. Відповіддю тесту можуть бути такі параметри, як напруга, струм, частота тощо, або показники продуктивності, такі як логічні стани та часові характеристики.
Отримання тестової відповіді може бути реалізовано тестовими інструментами, тестовим обладнанням або тестовим програмним забезпеченням. Аналіз тестової відповіді може бути досягнутий шляхом аналізу даних, оцінки продуктивності або діагностики несправностей. Збір і аналіз відповідей тесту повинні відповідати певним вимогам до точності, стабільності та надійності, щоб забезпечити точність результатів тесту.
3. Судження та відгук про результати тесту
Основний принцип тестування IC також включає судження та зворотній зв'язок результатів тестування. Оцінка результатів тестування полягає в тому, щоб оцінити, чи відповідають продуктивність, функціональність і надійність ІС вимогам проектування та цільовим показникам шляхом порівняння різниці між відповіддю тесту та очікуваною відповіддю.
Зворотний зв’язок із результатами випробувань призначений для оптимізації та вдосконалення процесу проектування, виробництва чи випробувань IC шляхом передачі результатів випробувань розробникам, виробникам або тестувальникам. Судження та відгуки про результати тестування повинні відповідати певним вимогам щодо точності та надійності в режимі реального часу, щоб забезпечити ефективність процесу тестування.
Функціональний тест є основним методом перевірки IC, який в основному використовується для визначення правильності логічної функції IC. Функціональне тестування зазвичай використовує векторне тестування, щоб перевірити, чи відповідає вихідна відповідь мікросхеми очікуванням, шляхом введення конкретних тестових векторів.
Перевага функціонального тестування полягає в тому, що воно забезпечує високе охоплення тестуванням і може виявити більшість логічних помилок у IC. Однак недоліком функціонального тестування є те, що воно займає багато часу та вимагає великої кількості тестових векторів і тестових даних.
Тестування продуктивності є важливим методом тестування мікросхем, який в основному використовується для визначення продуктивності синхронізації та енергоспоживання мікросхем. Тестування продуктивності зазвичай використовує тестування синхронізації та тестування потужності для оцінки індексів продуктивності мікросхем шляхом вимірювання їхніх параметрів синхронізації та параметрів енергоспоживання.
Перевага тестування продуктивності полягає в тому, що воно може виявити вузькі місця продуктивності та проблеми з енергоспоживанням мікросхем. Однак недоліком тестування продуктивності є те, що воно вимагає високоточного тестового обладнання та складних процедур тестування.
Тест на надійність є ключовим методом тестування мікросхем, який в основному використовується для визначення здатності до перешкод і терміну служби мікросхем. Тестування надійності зазвичай використовує стрес-тестування, тестування на старіння та тестування навколишнього середовища, щоб оцінити надійність мікросхем шляхом імітації різноманітних суворих середовищ і умов роботи.
Перевага перевірки надійності полягає в тому, що вона здатна виявити потенційні проблеми та проблеми з довговічністю мікросхем. Однак недолік перевірки надійності полягає в тому, що вона займає багато часу і вимагає багато тестового обладнання та умов тестування.
Параметричний тест є допоміжним методом тестування мікросхеми, який в основному використовується для визначення напруги, струму, частоти та інших параметрів. Параметричний тест зазвичай використовує інструменти параметричного тестування шляхом вимірювання значень параметрів IC для оцінки показників його ефективності.
Перевагами параметричного тестування є висока швидкість тестування та проста робота. Однак недоліком параметричного тестування є те, що тестове покриття є низьким і не може виявити логічні помилки та вузькі місця в продуктивності мікросхем.