EN
Rychlé odkazy
Zkouška integrovaného obvodu se vztahuje k procesu zkoušení výkonu, funkčnosti a spolehlivosti integrované obvody Účelem zkoušení integrovaných obvodů je zajistit, aby integrované obvody mohly splňovat požadavky na konstrukci a výkonnostní cíle v praktických aplikacích a zlepšit spolehlivost a stabilitu integrovaných obvodů.
Testování IC zahrnuje řadu aspektů, jako je funkční testování, testování výkonnosti, spolehlivosti, parametrické testování a další. Funkční test hlavně zjišťuje, zda je logická funkce IC správná; testování výkonnosti hlavně zjišťuje časovou výkonnost IC, spotřebu energie atd.; testování spolehlivosti hlavně zjišťuje odolnost IC proti rušení, životnost atd.; parametrické testování hlavně zjišťuje parametrickou výkonnost IC, jako jsou napětí, proud, frekvence atd.
Základní princip testování IC
1. Generování a přenášení testovacích signálů
Základní princip testování IC spočívá v generování a přenášení testovacích signálů pro kontrolu výkonnosti, funkcionalit a spolehlivosti integrovaných obvodů. Testovací signály mohou být analogové, digitální nebo smíšené signály, které jsou vybrány podle požadavků a účelů testování.
Generování testovacích signálů lze dosáhnout pomocí měřicích přístrojů, testovacího vybavení nebo testovacího softwaru. Přenos testovacích signálů lze realizovat pomocí testovacích sondačů, testovacích držáků nebo testovacích rozhraní. Generování a přenos testovacích signálů musí splňovat určité požadavky na přesnost, stabilitu a spolehlivost, aby byla zajištěna přesnost výsledků měření.
2. Získávání a analýza testovacích odpovědí
Dalším základním principem testování IC je hodnocení výkonu, funkčnosti a spolehlivosti integrovaných obvodů prostřednictvím získávání a analýzy testovacích odpovědí. Testovací odpověď může být parametry jako napětí, proud, frekvence atd., nebo výkonnostní ukazatele jako logické stavy a časové charakteristiky.
Získání testovací odezvy může být realizováno pomocí měřicích přístrojů, testovacího zařízení nebo testovacího softwaru. Analýza testovací odezvy může být dosažena prostřednictvím analýzy dat, posouzení výkonu nebo diagnostiky poruch. Sběr a analýza testovací odezvy musí splňovat určité požadavky na přesnost, stabilitu a spolehlivost, aby byla zajištěna přesnost výsledků testu.
3. Posouzení a zpětná vazba testovacích výsledků
Základní princip testování IC také zahrnuje posouzení a zpětnou vazbu testovacích výsledků. Posouzení testovacích výsledků spočívá v tom, posoudit, zda výkonnost, funkčnost a spolehlivost IC vyhovují návrhovým požadavkům a cílům výkonu pomocí srovnání rozdílu mezi testovací odezvou a očekávanou odezvou.
Zpětná vazba z výsledků testů slouží k optimalizaci a zlepšování návrhu, výroby nebo testovacího procesu integrovaného obvodu (IC) komunikací výsledků testů s návrháři, výrobci nebo testery. Rozhodnutí a zpětná vazba z výsledků testů musí splňovat určité požadavky v oblasti reálného času, přesnosti a spolehlivosti, aby se zajistila efektivnost testovacího procesu.
Funkční test je základní metodou testování IC, používá se hlavně k detekci, zda je logická funkce IC správná. Funkční testy obvykle používají Vektorové testy, které pozorují, zda odpovídá výstupní reakce IC očekáváním za použití konkrétních testovacích vektorů.
Výhodou funkčního testování je, že poskytuje vysoké pokrytí testů a dokáže detekovat většinu logických chyb v IC. Nicméně, nevýhodou funkčního testování je, že trvá dlouhou dobu a vyžaduje velké množství testovacích vektorů a dat.
Test výkonnosti je důležitou metodou testování IC, používá se především k detekci časovacích vlastností a spotřeby energie integrovaných obvodů. Test výkonnosti obvykle využívá Timing Testing a Power Testing pro vyhodnocení výkonnostních parametrů IC pomocí měření jejich časovacích parametrů a parametrů spotřeby energie.
Výhodou testu výkonnosti je, že dokáže detekovat výkonnostní vazby a problémy s spotřebou energie u IC. Nicméně, nevýhodou testu výkonnosti je, že vyžaduje vysoce přesné testovací zařízení a složité testovací postupy.
Test spolehlivosti je klíčovou metodou testování IC, používá se především k detekci odolnosti proti rušením a životnosti integrovaných obvodů. Test spolehlivosti obvykle využívá Stress Testing, Aging Testing a Environmental Testing pro posouzení spolehlivosti IC simulací různých extrémních podmínek a pracovních režimů.
Výhodou spolehlivostního testování je, že dokáže detekovat potenciální problémy a otázky výdržnosti integrovaných obvodů. Nicméně, nevýhodou spolehlivostního testování je, že trvá dlouhou dobu a vyžaduje mnoho testovacího zařízení a testovacích podmínek.
Parametrické testování je pomocnou metodou testování integrovaných obvodů, hlavně používanou pro kontrolu napětí, proudu, frekvence a jiných parametrických vlastností IC. Parametrické testování obvykle používá parametrické testovací přístroje, které měří parametry IC a hodnotí tak jejich výkonnostní ukazatele.
Výhodou parametrického testování je rychlá rychlost testování a jednoduchá operace. Nicméně, nevýhodou parametrického testování je nízká krycí testovací úroveň a nedokáže detekovat logické chyby a výkonnostní vazby v IC.