Definisi Ujian IC

Ujian Litar Bersepadu merujuk kepada proses menguji prestasi, kefungsian dan kebolehpercayaan litar bersepadu. Tujuan ujian IC adalah untuk memastikan litar bersepadu dapat memenuhi keperluan reka bentuk dan sasaran prestasi dalam aplikasi praktikal, dan untuk meningkatkan kebolehpercayaan dan kestabilan litar bersepadu.

Ujian IC merangkumi beberapa aspek, seperti ujian berfungsi, ujian prestasi, ujian kebolehpercayaan, ujian parametrik dan sebagainya. Ujian fungsi terutamanya mengesan sama ada fungsi logik IC adalah betul; ujian prestasi terutamanya mengesan prestasi masa IC, prestasi penggunaan kuasa, dsb.; ujian kebolehpercayaan terutamanya mengesan keupayaan anti-gangguan IC, masa hayat, dan lain-lain; ujian parameter terutamanya mengesan prestasi parameter IC, seperti voltan, arus, frekuensi, dsb..

Prinsip asas ujian IC

1. Uji penjanaan dan penghantaran isyarat

Prinsip asas ujian IC adalah untuk menjana dan menghantar isyarat ujian untuk menguji prestasi, fungsi dan kebolehpercayaan litar bersepadu. Isyarat ujian boleh menjadi isyarat analog, digital atau campuran, yang dipilih mengikut keperluan ujian dan tujuan ujian.

Penjanaan isyarat ujian boleh dicapai dengan instrumen ujian, peralatan ujian atau perisian ujian. Penghantaran isyarat ujian boleh direalisasikan dengan probe ujian, lekapan ujian atau antara muka ujian. Penjanaan dan penghantaran isyarat ujian perlu memenuhi keperluan ketepatan, kestabilan dan kebolehpercayaan tertentu untuk memastikan ketepatan keputusan ujian.

2. Pemerolehan dan Analisis Tindak Balas Ujian

Satu lagi prinsip asas ujian IC adalah untuk menilai prestasi, fungsi dan kebolehpercayaan IC melalui pemerolehan dan analisis tindak balas ujian. Tindak balas ujian boleh menjadi parameter seperti voltan, arus, frekuensi, dsb., atau penunjuk prestasi seperti keadaan logik dan ciri masa.

Pemerolehan tindak balas ujian boleh direalisasikan oleh instrumen ujian, peralatan ujian atau perisian ujian. Analisis tindak balas ujian boleh dicapai melalui analisis data, penilaian prestasi atau diagnosis kesalahan. Pengumpulan dan analisis tindak balas ujian perlu memenuhi keperluan ketepatan, kestabilan dan kebolehpercayaan tertentu untuk memastikan ketepatan keputusan ujian.

3. Penghakiman dan maklum balas keputusan ujian

Prinsip asas ujian IC juga termasuk pertimbangan dan maklum balas keputusan ujian. Penghakiman keputusan ujian adalah untuk menilai sama ada prestasi, kefungsian dan kebolehpercayaan IC memenuhi keperluan reka bentuk dan sasaran prestasi dengan membandingkan perbezaan antara tindak balas ujian dan tindak balas yang dijangkakan.

Maklum balas keputusan ujian adalah untuk mengoptimumkan dan menambah baik proses reka bentuk, pembuatan atau ujian IC dengan menyampaikan keputusan ujian kepada pereka, pengilang atau penguji. Pertimbangan dan maklum balas keputusan ujian perlu memenuhi keperluan masa nyata, ketepatan dan kebolehpercayaan tertentu untuk memastikan keberkesanan proses ujian.

kaedah ujian IC

1. Ujian Fungsi

Ujian fungsian ialah kaedah asas ujian IC, terutamanya digunakan untuk mengesan sama ada fungsi logik IC adalah betul. Ujian berfungsi biasanya menggunakan Ujian Vektor untuk memerhatikan sama ada tindak balas keluaran IC memenuhi jangkaan dengan memasukkan vektor ujian tertentu.

Kelebihan ujian berfungsi ialah ia menyediakan liputan ujian yang tinggi dan boleh mengesan kebanyakan ralat logik dalam IC. Walau bagaimanapun, kelemahan ujian berfungsi ialah ia mengambil masa yang lama dan memerlukan sejumlah besar vektor ujian dan data ujian.

2. Ujian Prestasi

Ujian prestasi ialah kaedah penting ujian IC, terutamanya digunakan untuk mengesan prestasi masa dan prestasi penggunaan kuasa IC. Ujian prestasi biasanya menggunakan Ujian Masa dan Ujian Kuasa untuk menilai indeks prestasi IC dengan mengukur parameter masa dan parameter penggunaan kuasa mereka.

Kelebihan ujian prestasi ialah ia boleh mengesan kesesakan prestasi dan masalah penggunaan kuasa IC. Walau bagaimanapun, kelemahan ujian prestasi ialah ia memerlukan peralatan ujian berketepatan tinggi dan prosedur ujian yang kompleks.

3. Ujian Kebolehpercayaan

Ujian kebolehpercayaan ialah kaedah utama ujian IC, terutamanya digunakan untuk mengesan keupayaan anti-gangguan dan hayat IC. Ujian kebolehpercayaan biasanya menggunakan Ujian Tekanan, Ujian Penuaan dan Ujian Alam Sekitar untuk menilai kebolehpercayaan IC dengan mensimulasikan pelbagai persekitaran dan keadaan kerja yang keras.

Kelebihan ujian kebolehpercayaan ialah ia mampu mengesan masalah yang berpotensi dan isu jangka hayat IC. Walau bagaimanapun, kelemahan ujian kebolehpercayaan ialah ia mengambil masa yang lama dan memerlukan banyak peralatan ujian dan syarat ujian.

4. Ujian Parameter

Ujian parametrik ialah kaedah tambahan ujian IC, terutamanya digunakan untuk mengesan voltan, arus, frekuensi dan prestasi parameter lain IC. Ujian parametrik biasanya menggunakan instrumen ujian parametrik, melalui pengukuran nilai parameter IC, untuk menilai penunjuk prestasinya.

Kelebihan ujian parametrik ialah kelajuan ujian yang pantas dan operasi yang mudah. Walau bagaimanapun, kelemahan ujian parametrik ialah liputan ujian adalah rendah dan tidak dapat mengesan ralat logik dan kesesakan prestasi dalam IC.