Takrif Ujian IC

Ujian Litar Terpadu merujuk kepada proses menguji prestasi, fungsi dan kebolehpercayaan. Litar Bersepadu Tujuan ujian IC adalah untuk memastikan bahawa litar terpadu dapat memenuhi keperluan reka bentuk dan sasaran prestasi dalam aplikasi praktikal, dan untuk meningkatkan kebolehpercayaan dan kestabilan litar terpadu.

Pengujian IC melibatkan beberapa aspek, seperti pengujian fungsi, pengujian prestasi, pengujian kebolehpercayaan, pengujian parametrik, dan sebagainya. Ujian fungsi terutamanya mengesan sama ada fungsi logik IC adalah betul; ujian prestasi terutamanya mengesan prestasi masa IC, prestasi penggunaan kuasa, dan sebagainya; ujian kebolehpercayaan terutamanya mengesan keupayaan anti-gangguan IC, tempoh hayat, dan sebagainya; ujian parameter terutamanya mengesan prestasi parameter IC, seperti voltan, arus, frekuensi, dan sebagainya.

Prinsip asas pengujian IC

1. Penghasilan dan penjanaan isyarat ujian

Prinsip asas pengujian IC adalah untuk menjana dan mentransmisikan isyarat ujian untuk menguji prestasi, kefungsian, dan kebolehpercayaan litar bersepadu. Isyarat ujian boleh berupa isyarat analog, digital atau campuran isyarat, yang dipilih mengikut keperluan ujian dan tujuan ujian.

Pembangkitan isyarat ujian boleh dicapai melalui alatan ujian, peralatan ujian atau perisian ujian. Penghantaran isyarat ujian boleh dilaksanakan oleh sonda ujian, peralatan ujian atau antara muka ujian. Pembangkitan dan penghantaran isyarat ujian perlu memenuhi keperluan ketepatan, kestabilan dan kebolehpercayaan tertentu untuk memastikan ketepatan hasil ujian.

2. Penjanaan dan Analisis Tanggapan Ujian

Prinsip asas lain bagi pengujian IC adalah untuk menilai prestasi, fungsi dan kebolehpercayaan IC melalui penjanaan dan analisis tanggapan ujian. Tanggapan ujian boleh menjadi parameter seperti voltan, arus, frekuensi, dll., atau penanda prestasi seperti keadaan logik dan ciri-ciri masa.

Pemerkiraan respon ujian boleh dilaksanakan melalui alatan ujian, peralatan ujian atau perisian ujian. Analisis respon ujian boleh dicapai melalui analisis data, penilaian prestasi atau diagnosis kesalahan. Pengumpulan dan analisis respon ujian perlu memenuhi keperluan ketepatan, kestabilan dan kebolehpercayaan tertentu untuk memastikan ketepatan hasil ujian.

3. Penilaian dan maklum balas hasil ujian

Prinsip asas pengujian IC juga termasuk penilaian dan maklum balas hasil ujian. Penilaian hasil ujian adalah untuk menilai sama ada prestasi, fungsi dan kebolehpercayaan IC memenuhi keperluan reka bentuk dan sasaran prestasi dengan membandingkan perbezaan antara respon ujian dan respon yang dijangka.

Maklum balas hasil ujian adalah untuk mengoptimumkan dan memperbaiki reka bentuk, pengeluaran atau proses ujian satu IC dengan menyampaikan hasil ujian kepada pembuat rekabentuk, pengeluar atau penguji. Penilaian dan maklum balas hasil ujian perlu memenuhi beberapa keperluan masa nyata, kejituan dan kebolehpercayaan untuk memastikan keberkesanan proses ujian.

kaedah ujian IC

1.Ujian Fungsional

Ujian fungsional adalah kaedah asas ujian IC, terutamanya digunakan untuk mengesan sama ada fungsi logik IC itu betul. Ujian fungsional biasanya menggunakan Ujian Vektor untuk mengamati sama ada tanggapan output IC memenuhi jangkaan dengan memasukkan vektor ujian tertentu.

Kelebihan ujian fungsional adalah ia memberikan liputan ujian yang tinggi dan boleh mengesan kebanyakan ralat logik dalam satu IC. Walau bagaimanapun, kelemahan ujian fungsional adalah ia memerlukan masa yang lama dan memerlukan banyak vektor ujian dan data ujian.

2. Ujian Prestasi

Pengujian prestasi adalah kaedah penting dalam pengujian IC, terutamanya digunakan untuk mengesan prestasi masa dan keupayaan penggunaan kuasa IC. Pengujian prestasi biasanya menggunakan Pengujian Masa dan Pengujian Kuasa untuk menilai indeks prestasi IC dengan mengukur parameter masa dan parameter penggunaan kuasa mereka.

Kelebihan pengujian prestasi adalah ia boleh mengesan leher botol prestasi dan masalah penggunaan kuasa IC. Walau bagaimanapun, kelemahan pengujian prestasi adalah ia memerlukan peralatan ujian ketepatan tinggi dan prosedur ujian yang kompleks.

3.Ujian Kebolehtahan

Ujian kebolehtahan adalah kaedah utama dalam ujian IC, terutamanya digunakan untuk mengesan keupayaan anti-gangguan dan hayat IC. Ujian kebolehtahan biasanya menggunakan Pengujian Tegakan, Pengujian Penuaan dan Pengujian Alam sekitar untuk menilai kebolehtahan IC dengan mensimulasikan pelbagai alam sekitar dan keadaan kerja yang keras.

Kelebihan ujian kebolehpercayaan adalah ia mampu mengesan masalah potensial dan isu umur panjang IC. Walau bagaimanapun, kelemahan ujian kebolehpercayaan adalah ia memerlukan masa yang lama dan banyak peralatan ujian serta syarat ujian.

4.Ujian Parameter

Ujian parameter adalah kaedah pembantu bagi ujian IC, terutamanya digunakan untuk mengesan voltan, arus, frekuensi dan prestasi parameter lain IC. Ujian parameter biasanya menggunakan alat ujian parameter, melalui pengukuran nilai parameter IC, untuk menilai indikator prestasinya.

Kelebihan ujian parameter adalah kelajuan ujian yang pantas dan operasi yang mudah. Walau bagaimanapun, kelemahan ujian parameter adalah kerangkapan ujian rendah dan tidak dapat mengesan ralat logik dan leher botol prestasi dalam IC.