EN
Snelkoppelingen
Geïntegreerde circuittesten verwijzen naar het proces van het testen van de prestaties, functionaliteit en betrouwbaarheid van Geïntegreerde schakelingen Het doel van IC-testen is om ervoor te zorgen dat geïntegreerde schakelingen voldoen aan de ontwerpvereisten en prestatiedoelstellingen in praktische toepassingen, en om de betrouwbaarheid en stabiliteit van geïntegreerde schakelingen te verbeteren.
IC-testen omvat een aantal aspecten, zoals functioneel testen, prestatie-testen, betrouwbaarheidstesten, parametrisch testen enzovoort. Functietest controleert voornamelijk of de logische functie van de IC correct is; prestatietest controleert voornamelijk de tijdsprestaties van de IC, energieverbruik enz.; betrouwbaarheidstest controleert voornamelijk de weerstand tegen storingen, levensduur enz.; parametertest controleert voornamelijk de parameterprestaties van de IC, zoals spanning, stroom, frequentie enz.
Het basisprincipe van IC-testen
1. Testsignaalgeneratie en -transmissie
Het basisprincipe van IC-test is het genereren en doorgeven van testsignalen om de prestaties, functionaliteit en betrouwbaarheid van geïntegreerde schakelingen te testen. De testsignalen kunnen analoog, digitaal of gemengde signalen zijn, die worden geselecteerd op basis van de testvereisten en doelen.
De generatie van testsignalen kan worden bereikt door testinstrumenten, testapparatuur of testsoftware. De overdracht van testsignalen kan worden gerealiseerd door testsonden, testfixtures of testinterfaces. De generatie en overdracht van testsignalen moeten aan bepaalde nauwkeurigheids-, stabiliteits- en betrouwbaarheidsvereisten voldoen om de nauwkeurigheid van testresultaten te waarborgen.
2. Verwerving en Analyse van Testreacties
Een andere basisc principe van IC-testen is het beoordelen van de prestaties, functionaliteit en betrouwbaarheid van IC's door de verwerving en analyse van testreacties. De testreactie kan bestaan uit parameters zoals spanning, stroom, frequentie, enz., of prestatieindicatoren zoals logische staten en tijdskenmerken.
De verwerving van de testrespons kan worden gerealiseerd door testinstrumenten, testapparatuur of testsoftware. De analyse van de testrespons kan worden bereikt door data-analyse, prestatie-evaluatie of storingdiagnose. De verzameling en analyse van de testrespons moeten aan bepaalde nauwkeurigheids-, stabiliteits- en betrouwbaarheidsvereisten voldoen om de nauwkeurigheid van de testresultaten te waarborgen.
3. Oordeel en feedback over testresultaten
Het basisprincipe van IC-testen omvat ook het oordeel en de feedback over testresultaten. Het oordeel over testresultaten bestaat erin om te bepalen of de prestaties, functionaliteit en betrouwbaarheid van de IC aan de ontwerpeisen en prestatiedoelen voldoen door het verschil tussen de testrespons en de verwachte respons te vergelijken.
Feedback van testresultaten dient om het ontwerp, de productie of het testproces van een IC te optimaliseren en te verbeteren door de testresultaten door te geven aan de ontwerpers, producenten of testers. De beoordeling en feedback van testresultaten moeten aan bepaalde eisen in real-time, nauwkeurigheid en betrouwbaarheid voldoen om de effectiviteit van het testproces te waarborgen.
Functionele test is een basismethode voor IC-test, voornamelijk gebruikt om te controleren of de logische functie van de IC correct is. Functioneel testen gebruikt meestal Vector Testing om te observeren of de uitkomst van een IC aan de verwachtingen voldoet door specifieke testvectoren in te voeren.
Het voordeel van functioneel testen is dat het een hoge testdekking biedt en de meeste logische fouten in een IC kan detecteren. Het nadeel van functioneel testen is dat het veel tijd kost en een grote hoeveelheid testvectoren en testgegevens vereist.
Prestatietesten zijn een belangrijke methode voor IC-testen, voornamelijk gebruikt om de timingprestaties en energieverbruikprestaties van IC's te detecteren. Prestatietesten gebruiken meestal Timing Testing en Power Testing om de prestatieindexen van IC's te evalueren door hun timingparameters en energieverbruikparameters te meten.
Het voordeel van prestatietesten is dat ze prestatieknelpunten en energieverbruikproblemen van IC's kunnen detecteren. Het nadeel van prestatietesten is echter dat ze hoge precisie testapparatuur en complexe testprocedure vereisen.
Betrouwbaarheidstesten zijn een sleutelmethode voor IC-testen, voornamelijk gebruikt om de weerstand tegen storingen en de levensduur van IC's te detecteren. Betrouwbaarheidstesten gebruiken meestal Stress Testing, Aging Testing en Environmental Testing om de betrouwbaarheid van IC's te beoordelen door verschillende strenge omgevingen en werksituaties te simuleren.
Het voordeel van betrouwbaarheidstesten is dat ze in staat zijn om potentiële problemen en levensduurproblemen van IC's op te sporen. Het nadeel van betrouwbaarheidstesten is echter dat het veel tijd kost en veel testapparatuur en testomstandigheden vereist.
Parametrische test is een bijbehorende methode voor IC-test, voornamelijk gebruikt om de spanning, stroom, frequentie en andere parameterprestaties van de IC te detecteren. Parametrische test maakt gewoonlijk gebruik van parametrische testinstrumenten, door de parameterwaarden van de IC te meten om zijn prestatie-indicatoren te beoordelen.
De voordelen van parametrisch testen zijn hoge snelheid en eenvoudige bediening. Het nadeel van parametrisch testen is echter dat de testdekking laag is en logische fouten en prestatieknelpunten in IC's niet kan detecteren.