EN
Links Rápidos
Os testes de circuitos integrados referem-se ao processo de teste do desempenho, funcionalidade e confiabilidade de Circuitos integrados O objectivo dos ensaios de circuitos integrados é assegurar que os circuitos integrados possam satisfazer os requisitos de concepção e os objectivos de desempenho em aplicações práticas, e melhorar a fiabilidade e a estabilidade dos circuitos integrados.
O teste de IC inclui vários aspectos, como teste funcional, teste de desempenho, teste de confiabilidade, teste paramétrico, entre outros. O teste funcional verifica principalmente se a função lógica do IC está correta; o teste de desempenho verifica principalmente o desempenho de tempo do IC, consumo de energia, etc.; o teste de confiabilidade verifica principalmente a capacidade anti-interferência do IC, vida útil, etc.; o teste de parâmetros verifica principalmente o desempenho paramétrico do IC, como voltagem, corrente, frequência, etc..
O princípio básico do teste de IC
1. Geração e transmissão de sinais de teste
O princípio básico do teste de IC é gerar e transmitir sinais de teste para verificar o desempenho, funcionalidade e confiabilidade dos circuitos integrados. Os sinais de teste podem ser analógicos, digitais ou sinais mistos, que são selecionados de acordo com os requisitos de teste e objetivos de teste.
A geração de sinais de teste pode ser realizada por instrumentos de teste, equipamentos de teste ou software de teste. A transmissão de sinais de teste pode ser realizada por sondas de teste, fixtures de teste ou interfaces de teste. A geração e transmissão de sinais de teste precisam atender a certos requisitos de precisão, estabilidade e confiabilidade para garantir a precisão dos resultados de teste.
2. Aquisição e Análise da Resposta de Teste
Outro princípio básico do teste de IC é avaliar o desempenho, funcionalidade e confiabilidade dos ICs através da aquisição e análise das respostas de teste. A resposta de teste pode ser parâmetros como voltagem, corrente, frequência, etc., ou indicadores de desempenho como estados lógicos e características de tempo.
A aquisição da resposta do teste pode ser realizada por instrumentos de teste, equipamentos de teste ou software de teste. A análise da resposta do teste pode ser alcançada através de análise de dados, avaliação de desempenho ou diagnóstico de falhas. A coleta e análise da resposta do teste precisam atender a certos requisitos de precisão, estabilidade e confiabilidade para garantir a precisão dos resultados dos testes.
3. Julgamento e feedback dos resultados dos testes
O princípio básico do teste de IC também inclui o julgamento e o feedback dos resultados dos testes. O julgamento dos resultados dos testes é determinar se o desempenho, funcionalidade e confiabilidade do IC atendem aos requisitos de design e objetivos de desempenho, comparando a diferença entre a resposta do teste e a resposta esperada.
O feedback dos resultados de teste é para otimizar e melhorar o design, a fabricação ou o processo de teste de um IC comunicando os resultados dos testes aos designers, fabricantes ou testadores. O julgamento e o feedback dos resultados dos testes precisam atender a certos requisitos de tempo real, precisão e confiabilidade para garantir a eficácia do processo de teste.
O teste funcional é um método básico de teste de IC, usado principalmente para detectar se a função lógica do IC está correta. O teste funcional geralmente utiliza Teste por Vetor para observar se a resposta de saída de um IC atende às expectativas ao inserir vetores de teste específicos.
A vantagem do teste funcional é que ele oferece alta cobertura de teste e pode detectar a maioria dos erros lógicos em um IC. No entanto, a desvantagem do teste funcional é que ele leva muito tempo e requer uma grande quantidade de vetores de teste e dados de teste.
O teste de desempenho é um método importante de teste de IC, usado principalmente para detectar o desempenho de tempo e o consumo de energia dos ICs. O teste de desempenho geralmente adota Teste de Temporização e Teste de Energia para avaliar os índices de desempenho dos ICs medindo seus parâmetros de temporização e parâmetros de consumo de energia.
A vantagem do teste de desempenho é que ele pode detectar gargalos de desempenho e problemas de consumo de energia nos ICs. No entanto, a desvantagem do teste de desempenho é que ele requer equipamentos de teste de alta precisão e procedimentos de teste complexos.
O teste de confiabilidade é um método-chave de teste de IC, usado principalmente para detectar a capacidade anti-interferência e a vida útil dos ICs. O teste de confiabilidade geralmente adota Teste de Estresse, Teste de Envelhecimento e Teste Ambiental para avaliar a confiabilidade dos ICs simulando vários ambientes rigorosos e condições de funcionamento.
A vantagem do teste de confiabilidade é que ele é capaz de detectar problemas potenciais e questões de longevidade dos ICs. No entanto, a desvantagem do teste de confiabilidade é que ele leva muito tempo e requer muitos equipamentos de teste e condições de teste.
O teste paramétrico é um método auxiliar de teste de IC, usado principalmente para detectar o desempenho de parâmetros de tensão, corrente, frequência e outros do IC. O teste paramétrico geralmente utiliza instrumentos de teste paramétrico, medindo os valores de parâmetros do IC para avaliar seus indicadores de desempenho.
As vantagens do teste paramétrico são a velocidade de teste rápida e operação simples. No entanto, a desvantagem do teste paramétrico é que a cobertura do teste é baixa e não consegue detectar erros lógicos e gargalos de desempenho nos ICs.