ENRýchle odkazy
Testovanie integrovaných obvodov sa vzťahuje na proces testovania výkonu, funkčnosti a spoľahlivosti integrovaných obvodov. Účelom testovania integrovaných obvodov je zabezpečiť, aby integrované obvody spĺňali konštrukčné požiadavky a výkonnostné ciele v praktických aplikáciách, a zlepšiť spoľahlivosť a stabilitu integrovaných obvodov.
Testovanie integrovaných obvodov zahŕňa množstvo aspektov, ako je funkčné testovanie, testovanie výkonu, testovanie spoľahlivosti, parametrické testovanie atď. Funkčný test zisťuje hlavne, či je logická funkcia integrovaného obvodu správna; test výkonu zisťuje hlavne časovací výkon integrovaného obvodu, výkon spotreby energie atď.; test spoľahlivosti zisťuje hlavne schopnosť integrovaného obvodu proti rušeniu, životnosť atď.; test parametrov zisťuje hlavne výkon parametrov integrovaného obvodu, ako je napätie, prúd, frekvencia atď.
Základný princíp testovania IC
1. Otestujte generovanie a prenos signálu
Základným princípom testu integrovaných obvodov je generovanie a prenos testovacích signálov na testovanie výkonu, funkčnosti a spoľahlivosti integrovaných obvodov. Testovacie signály môžu byť analógové, digitálne alebo zmiešané signály, ktoré sa vyberajú podľa požiadaviek testu a účelov testovania.
Generovanie testovacích signálov je možné dosiahnuť pomocou testovacích prístrojov, testovacieho zariadenia alebo testovacieho softvéru. Prenos testovacích signálov je možné realizovať pomocou testovacích sond, testovacích prípravkov alebo testovacích rozhraní. Generovanie a prenos testovacích signálov musí spĺňať určité požiadavky na presnosť, stabilitu a spoľahlivosť, aby sa zabezpečila presnosť výsledkov testov.
2. Získanie a analýza testovacej odozvy
Ďalším základným princípom testovania integrovaných obvodov je posúdenie výkonu, funkčnosti a spoľahlivosti integrovaných obvodov prostredníctvom získavania a analýzy testovacích odpovedí. Testovacou odozvou môžu byť parametre ako napätie, prúd, frekvencia atď., alebo ukazovatele výkonu, ako sú logické stavy a časové charakteristiky.
Získanie testovacej odozvy je možné realizovať pomocou testovacích prístrojov, testovacieho zariadenia alebo testovacieho softvéru. Analýzu odozvy testu je možné dosiahnuť analýzou údajov, vyhodnotením výkonu alebo diagnostikou porúch. Zber a analýza testovacej odozvy musí spĺňať určité požiadavky na presnosť, stabilitu a spoľahlivosť, aby sa zabezpečila presnosť výsledkov testov.
3. Posúdenie a spätná väzba výsledkov testov
Základný princíp IC testovania zahŕňa aj posúdenie a spätnú väzbu výsledkov testov. Na základe výsledkov skúšok sa posudzuje, či výkonnosť, funkčnosť a spoľahlivosť integrovaného obvodu spĺňajú konštrukčné požiadavky a výkonnostné ciele porovnaním rozdielu medzi odozvou testu a očakávanou odozvou.
Spätná väzba k výsledkom testov má optimalizovať a zlepšiť proces návrhu, výroby alebo testovania integrovaného obvodu oznámením výsledkov testov konštruktérom, výrobcom alebo testerom. Posúdenie a spätná väzba výsledkov testov musia spĺňať určité požiadavky na presnosť a spoľahlivosť v reálnom čase, aby sa zabezpečila účinnosť testovacieho procesu.
Funkčný test je základná metóda IC testu, ktorá sa používa hlavne na zistenie, či je logická funkcia IC správna. Funkčné testovanie zvyčajne používa vektorové testovanie na zistenie, či výstupná odozva integrovaného obvodu spĺňa očakávania zadaním špecifických testovacích vektorov.
Výhodou funkčného testovania je, že poskytuje vysoké pokrytie testov a dokáže odhaliť väčšinu logických chýb v integrovanom obvode. Nevýhodou funkčného testovania však je, že trvá dlho a vyžaduje veľké množstvo testovacích vektorov a testovacích údajov.
Testovanie výkonu je dôležitou metódou testovania integrovaných obvodov, ktorá sa používa hlavne na detekciu časovania a výkonu spotreby energie integrovaných obvodov. Testovanie výkonu zvyčajne využíva testovanie časovania a testovanie spotreby energie na vyhodnotenie výkonnostných indexov integrovaných obvodov meraním ich časovacích parametrov a parametrov spotreby energie.
Výhodou testovania výkonu je, že dokáže odhaliť úzke miesta výkonu a problémy so spotrebou energie integrovaných obvodov. Nevýhodou testovania výkonu je však to, že si vyžaduje vysoko presné testovacie zariadenie a zložité testovacie postupy.
Test spoľahlivosti je kľúčovou metódou testu integrovaných obvodov, ktorá sa používa hlavne na detekciu schopnosti a životnosti integrovaných obvodov proti rušeniu. Testovanie spoľahlivosti zvyčajne využíva záťažové testovanie, testovanie starnutia a environmentálne testovanie na posúdenie spoľahlivosti integrovaných obvodov simuláciou rôznych drsných prostredí a pracovných podmienok.
Výhodou testovania spoľahlivosti je, že je schopné odhaliť potenciálne problémy a problémy s životnosťou integrovaných obvodov. Nevýhodou testovania spoľahlivosti je však to, že trvá dlho a vyžaduje si veľa testovacieho vybavenia a testovacích podmienok.
Parametrický test je pomocná metóda IC testu, ktorá sa používa hlavne na detekciu výkonu IC napätia, prúdu, frekvencie a ďalších parametrov. Parametrický test zvyčajne používa parametrické testovacie prístroje prostredníctvom merania hodnôt parametrov IC na posúdenie jeho výkonnostných ukazovateľov.
Výhodou parametrického testovania je vysoká rýchlosť testu a jednoduchá obsluha. Nevýhodou parametrického testovania však je, že pokrytie testu je nízke a nedokáže odhaliť logické chyby a úzke miesta výkonu v integrovaných obvodoch.