EN
Rýchle odkazy
Skúšanie integrovaných obvodov sa vzťahuje na proces testovania výkonu, funkčnosti a spoľahlivosti integrované obvody Účelom skúšania integrovaných obvodov je zabezpečiť, aby integrované obvody mohli spĺňať požiadavky na konštrukciu a ciele výkonnosti v praktických aplikáciách a zlepšiť spoľahlivosť a stabilitu integrovaných obvodov.
Testovanie IC zahŕňa viacero aspektov, ako sú funkčné testy, testy výkonnosti, testy spoľahlivosti, parametrické testy a pod. Funkčný test hlavne skúma, či je logická funkcia IC správna; test výkonnosti hlavne skúma časovú výkonnosť IC, spotrebu energie atď.; test spoľahlivosti hlavne skúma odolnosť IC voči rušeniam, životnosť atď.; parametrický test hlavne skúma parametrickú výkonnosť IC, ako sú napätie, prúd, frekvencia atď.
Základný princíp testovania IC
1. Generovanie a prenos testovacích signálov
Základný princíp testovania IC spočíva v generovaní a odosielaní testovacích signálov na testovanie výkonu, funkčnosti a spoľahlivosti integrovaných obvodov. Testovacie signály môžu byť analógové, digitálne alebo zmiešané signály, ktoré sa vyberajú podľa požiadaviek a účelov testovania.
Generovanie testovacích signálov môže byť dosiahnuté pomocou testovacieho vybavenia, testovacej aparatúry alebo testovacieho softvéru. Prenos testovacích signálov môže byť realizovaný pomocou testovacích sonda, testovacích držiek alebo testovacích rozhraní. Generovanie a prenos testovacích signálov musia spĺňať určité požiadavky na presnosť, stabilitu a spoľahlivosť, aby sa zabezpečila presnosť výsledkov testovania.
2. Získavanie a analýza testovacej odpovede
Ďalším základným princípom testovania IC je hodnotiť výkonnosť, funkčnosť a spoľahlivosť integrovaných obvodov prostredníctvom získavania a analyzy testovacej odpovede. Testovacia odpoveď môže byť parametrami ako napätie, prúd, frekvencia atď., alebo výkonnostnými ukazateľmi ako logické stavy a časové charakteristiky.
Získanie meranej odpovede môže byť realizované pomocou meracích přístrojov, meracích zariadení alebo meracvého softvéru. Analýza meranej odpovede môže byť dosiahnutá prostredníctvom analýzy údajov, hodnotenia výkonu alebo diagnostiky porúch. Zber a analýza meranej odpovede musia spĺňať určité požiadavky na presnosť, stabilitu a spoľahlivosť, aby sa zabezpečila presnosť výsledkov merania.
3. Posudzovanie a spätná väzba výsledkov merania
Základný princíp testovania IC tiež zahŕňa posudzovanie a spätnú väzbu výsledkov merania. Posudzovanie výsledkov merania spočíva v tom, posúdiť, či výkonnosť, funkčnosť a spoľahlivosť IC spĺňajú návrhové požiadavky a ciele výkonu porovnaním rozdielu medzi meranou odpoveďou a očakávanou odpoveďou.
Spätná väzba z výsledkov testovania slúži na optimalizáciu a vylepšenie dizajnu, výroby alebo testovacieho procesu IC prostredníctvom komunikácie výsledkov testov s dizajnérmi, výrobcami alebo testerami. Rozhodnutie a spätná väzba z výsledkov testovania musia splňovať určité požiadavky v oblasti reálnych časov, presnosti a spoľahlivosti, aby sa zabezpečila účinnosť testovacieho procesu.
Funkčné testovanie je základnou metódou testovania IC, ktorá sa používa predovšetkým na kontrolu, či je logická funkcia IC správna. Funkčné testovanie obvykle používa Vector Testing, pri ktorom sa pozoruje, či výstupná odpoveď IC zodpovedá očakávaniam po zadaniu špecifických testovacích vektorov.
Výhodou funkčného testovania je vysoké pokrytie testovania a schopnosť detegovať väčšinu logických chýb v IC. Nemocou funkčného testovania je, že trvá dlho a vyžaduje veľké množstvo testovacích vektorov a testovacích dát.
Test výkonu je dôležitou metódou testovania IC, hlavne používanou na detekciu časových vlastností a spotreby energie integrovaných obvodov. Test výkonu obvykle používa test časovania a test spotreby energie na vyhodnotenie výkonnostných ukazateľov IC pomocou merania ich časovacích parametrov a parametrov spotreby energie.
Výhodou testu výkonu je, že môže detegovať výkonnostné zastavenia a problémy s spotrebou energie u IC. Nemocou testu výkonu je, že vyžaduje vysoce presnú testovaciu techniku a zložité testovacie postupy.
Test spoľahlivosti je kľúčovou metódou testovania IC, hlavne používanou na detekciu odolnosti voči rušeniam a životnosti integrovaných obvodov. Test spoľahlivosti obvykle používa test stresu, test starnutia a test prostredia na posudzovanie spoľahlivosti IC simuláciou rôznych nepríznosných prostredí a pracovných podmienok.
Výhodou spolehlivostného testovania je, že dokáže detekovať potenciálne problémy a otázky dlhotrvačnosti IC. Avšak nevýhodou spolehlivostného testovania je, že trvá veľmi dlho a vyžaduje veľa testovacieho vybavenia a testovacích podmienok.
Parametrické testovanie je pomocnou metódou testovania IC, ktorá sa používa predovšetkým na kontrolu napätia, prúdu, frekvencie a iných parametrických vlastností IC. Parametrické testovanie obvykle používa parametrické testovacie nástroje, ktoré merajú parametre IC a hodnotia jeho výkonnostné ukazatele.
Výhodami parametrického testovania sú rýchla rýchlosť testovania a jednoduchá operácia. Avšak nevýhodou parametrického testovania je nízka pokrytie testovania a nemôže detekovať logické chyby a výkonové prekážky v IC.